1、雙鏡頭斜入射光學(xué)系統(tǒng)提高了粒度測(cè)試的精度

 

Bettersize3000采用雙鏡頭斜入射的精密光學(xué)系統(tǒng)，探測(cè)角度達(dá)0.02-165°，測(cè)量范圍達(dá)到0.01-3500μm，無論是毫米級(jí)顆粒，微米級(jí)顆粒，還是納米級(jí)顆粒，系統(tǒng)都能地捕捉，從原理上充分保障了測(cè)量精度和更高的性能。目前國(guó)外激光粒度儀普遍采用雙光源光學(xué)系統(tǒng)來增大探測(cè)角度，提升測(cè)試范圍，包括同軸雙光束系統(tǒng)和異軸雙光束系統(tǒng)。

 

與雙光束系統(tǒng)相比，百特雙鏡頭斜入射光學(xué)系統(tǒng)有明顯優(yōu)勢(shì)，一是可靠性高。因?yàn)殡p鏡頭增加的是一個(gè)無源器件——鏡頭，雙光束增加的是一個(gè)有源器件——激光器，無源器件的壽命和可靠性遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于有源器件。二是基準(zhǔn)。百特光學(xué)系統(tǒng)是單一偏振光光源，各個(gè)探測(cè)器上接收的散射光強(qiáng)基準(zhǔn)都是源于這個(gè)光源，具有的基準(zhǔn)。而雙光束系統(tǒng)是兩個(gè)光源，各個(gè)探測(cè)器上接受到的散射光強(qiáng)基準(zhǔn)有兩個(gè)，會(huì)造成測(cè)量誤差。第三，信號(hào)連續(xù)。雙鏡頭系統(tǒng)在所有探測(cè)器上的信號(hào)是連續(xù)采集、沒有間斷的。而雙光源系統(tǒng)，兩個(gè)光源輪流工作，每個(gè)光源對(duì)應(yīng)一組散射信號(hào)，反演計(jì)算時(shí)需要將這兩組信號(hào)進(jìn)行擬合，造成數(shù)據(jù)的不連續(xù)、不完整，對(duì)測(cè)量結(jié)果有很大影響。第四，樣品折射率測(cè)量功能。樣品的折射率是激光粒度分析的重要參數(shù)，并且它與波長(zhǎng)有關(guān)。Bettersize3000能得到任何樣品的折射率，從而保證對(duì)未知折射率（包括實(shí)部和虛部）的樣品能準(zhǔn)確測(cè)量其粒度分布。而多光束系統(tǒng)采用不同波長(zhǎng)的光源，照理應(yīng)有多個(gè)的折射率，而實(shí)際上是用一個(gè)折射率，將直接影響細(xì)顆粒的粒度測(cè)試準(zhǔn)確性。

 

2、Bettersize3000動(dòng)態(tài)粒形分析-粒度和粒形二合一

除具有*的粒度測(cè)試性能外，Bettersize3000Plus還有動(dòng)態(tài)粒形分析功能，成為粒度和粒形二合一分析系統(tǒng)。動(dòng)態(tài)粒形分析系統(tǒng)包括顯微鏡、高速攝像機(jī)和高速圖像處理軟件三部分組成，分析的粒形參數(shù)包括顆粒的圓形度、長(zhǎng)徑比、徑厚比、大粒徑等。同時(shí)，就粒度測(cè)試而言，可視化的顆粒圖像成為激光粒度儀上的一個(gè)明亮的“眼睛”，與激光法粒度數(shù)據(jù)相互認(rèn)證，使粒度測(cè)試更具有真實(shí)性。

 

Bettersize3000是百特粒度粒形分析技術(shù)達(dá)到的新高度，它所集成的雙鏡頭技術(shù)、折射率測(cè)量技術(shù)、激光散射/顯微圖像二合一技術(shù)、一鍵操作技術(shù)等粒度粒形分析技術(shù)，代表著粒度粒形分析技術(shù)發(fā)展的新成果。